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更新時間：2023-09-04 
瀏覽次數：739只需將樣品插入探頭之間即可測量的簡單測量儀器
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 旋鈕進行簡單的測量條件設置
半導體及太陽能電池材料（硅資料、多晶硅服務水平、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管相關性、DLC長期間、石墨烯集成、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬重要手段、ITO等）
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi技術的開發、InP研究與應用、Ga等）
約 8 英寸或約 156 x 156 毫米
[電阻率] 1m 至 200Ω cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度 500um）
[表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探頭類型的總范圍）
W220×D325×H210mm
約6.5kg
1點1點測量 非接觸式非接觸式
操作指南：通過 JOG 旋鈕進行簡單的測量條件設置
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