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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
產(chǎn)品型號：KAMAKIRI X 舞臺
更新時間：2024-07-11簡要描述：photonic-lattice在線/離線雙折射映射KAMAKIRI X 舞臺這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設(shè)備生產效率，它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布提升。它是一種可以在線安裝的類型，光源和測量臺可以分開發展。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
photonic-lattice在線/離線雙折射映射KAMAKIRI X 舞臺
photonic-lattice在線/離線雙折射映射KAMAKIRI X 舞臺
PA系列是測量范圍為0～130nm的低相位差裝置，以500萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。
適用于測量相位差較小的物體的特性，如玻璃制品、鏡片等基礎。
從顯微鏡尺寸到大尺寸（約 50 cm）提供堅實支撐，我們備有與測量對象相對應(yīng)的產(chǎn)品系列
這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設(shè)備，它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布高產。
一種可以在顯微鏡視野中測量雙折射的類型信息化技術。
附帶的顯微鏡可以從奧林巴斯或尼康中選擇。
PA-micro-S 是沒有顯微鏡的只有測量頭的產(chǎn)品良好。
這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設(shè)備逐步顯現，它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布銘記囑托。
它是一種可以在線安裝的類型，光源和測量臺可以分開傳遞。
這是一款測量范圍為 0 至 130 nm 的低相位差設(shè)備試驗，它以 500 萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。
它是一種可以在線安裝的類型開展攻關合作，光源和測量臺可以分開製度保障。
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