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產(chǎn)品型號(hào):FDC-H1510
更新時(shí)間:2024-08-29簡(jiǎn)要描述:日本 jfe膜厚分布測(cè)量裝置FDC-H1510特征1.能夠測(cè)量6英寸晶圓的整個(gè)表面2.能夠以高分辨率(約5μm)測(cè)量整個(gè)樣品表面和局部厚度3.緊湊的設(shè)計(jì)哪些領域,可安裝在桌面上4.基于高分辨率的局部測(cè)量由于可以6um的高分辨率測(cè)量約3mm角體驗區,因此適用于需要局部測(cè)量的器件圖案上等膜厚分布測(cè)量進入當下。5.最大6英寸的全面測(cè)量
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
日本 jfe膜厚分布測(cè)量裝置FDC-H1510
特征
1.能夠測(cè)量6英寸晶圓的整個(gè)表面
2.能夠以高分辨率(約5μm)測(cè)量整個(gè)樣品表面和局部厚度
3.緊湊的設(shè)計(jì)至關重要,可安裝在桌面上
4.基于高分辨率的局部測(cè)量
由于可以6um的高分辨率測(cè)量約3mm角研究與應用,因此適用于需要局部測(cè)量的器件圖案上等膜厚分布測(cè)量飛躍。
5.最大6英寸的全面測(cè)量
可選擇測(cè)量點(diǎn)間隔的網(wǎng)格尺寸,可全面測(cè)量至6英寸芯片尺寸全面協議。
主要用途
器件圖案等的膜厚分布測(cè)量
日本 jfe膜厚分布測(cè)量裝置FDC-H1510
特征
1.能夠測(cè)量6英寸晶圓的整個(gè)表面
2.能夠以高分辨率(約5μm)測(cè)量整個(gè)樣品表面和局部厚度
3.緊湊的設(shè)計(jì)重要部署,可安裝在桌面上
4.基于高分辨率的局部測(cè)量
由于可以6um的高分辨率測(cè)量約3mm角,因此適用于需要局部測(cè)量的器件圖案上等膜厚分布測(cè)量工具。
5.最大6英寸的全面測(cè)量
可選擇測(cè)量點(diǎn)間隔的網(wǎng)格尺寸智慧與合力,可全面測(cè)量至6英寸芯片尺寸。
主要用途
器件圖案等的膜厚分布測(cè)量
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廠家建立快捷、有效的溝通必然趨勢,和眾多國(guó)外生產(chǎn)廠
家建立了長(zhǎng)久合作伙伴關(guān)系促進善治。
