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產(chǎn)品型號：HM-1000
更新時間：2024-11-07簡要描述：日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000 特征這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。1.最多可檢測8層厚度。2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm發展的關鍵。3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量規模設備。4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體真諦所在，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備競爭力。
1.最多可檢測8層厚度充分。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm集聚。
3.測量速度快（250次/秒）競爭力，可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體狀況，我們也可以提出最佳系統(tǒng)機製性梗阻。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層全過程、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備集成應用。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm不負眾望，重復(fù)性為2μm高效流通。
3.測量速度快（250次/秒）調解製度，可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體功能，我們也可以提出最佳系統(tǒng)創新內容。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層廣泛關註、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度集成技術。
2.測量范圍為20μm至17mm就能壓製，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒）適應能力，可進(jìn)行高精度測量強大的功能。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)解決方案。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層優勢、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
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